1. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
رده :
QC176
.
83
.
A44
2007
2. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
رده :
QC176
.
83
.
A44
2006
3. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
رده :
QC176
.
83
.
A44
2006
4. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (تهران)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
5. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
رده :
E-BOOK
6. Fundamentals of nanoscale film analysis
پدیدآورنده : / Terry L. Alford, Leonard C. Feldman and James W. Mayer
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Thin films,Nanostructured materials
رده :
E-BOOK
